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王明昭.GE ProSpeed AI CT复杂故障1例[J].中国医学影像技术,2009,25(S1):126

GE ProSpeed AI CT复杂故障1例

Complex fault in GE ProSpeed AI CT: case report

投稿时间：2008-12-30 修订日期：2009-05-20

DOI：

中文关键词: 电路伪影

英文关键词:Circuit Artifacts

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作者	单位
王明昭	中国人民解放军第371医院CT室,河南新乡 453000

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