吕彬,何晖光,吕科,赵明昌,张志强,卢光明.脑皮层厚度分析方法及其应用[J].中国医学影像技术,2008,24(7):1130~1133
脑皮层厚度分析方法及其应用
Cortical thickness analysis method and its application
投稿时间:2007-10-20  修订日期:2008-04-05
DOI:
中文关键词:  图像处理  脑皮层厚度  计算解剖学
英文关键词:Image processing  Cortical thickness measurement  Computational anatomy
基金项目:国家自然科学基金面上项目(30670530,30670600)、国家高技术研究发展计划(2007AA01Z327)、国家自然科学基金创新群体项目资助(60621001)和北京市科技新星计划(2007A094)。
作者单位E-mail
吕彬 中国科学院自动化研究所复杂系统与智能科学重点实验室,北京 100190  
何晖光 中国科学院自动化研究所复杂系统与智能科学重点实验室,北京 100190 huiguang.he@ia.ac.cn 
吕科 中国科学院研究生院,北京 100049  
赵明昌 中国科学院自动化研究所复杂系统与智能科学重点实验室,北京 100190  
张志强 南京军区南京总医院医学影像科,江苏 南京 210002  
卢光明 南京军区南京总医院医学影像科,江苏 南京 210002  
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中文摘要:
      本文系统描述了脑皮层厚度测量的后处理步骤以及相应的统计分析方法,并就该方法在脑发育和相关疾病中的具体应用进行了深入的讨论。最后,指出脑皮层厚度测量与分析方法的研究意义与潜在局限性。
英文摘要:
      In this paper, we introduce the analysis methods after the cortical thickness is measured, and its some application on normal development as well as neurodegenerative and psychiatric diseases. At last, we point out the research value and the potential limitation of the cortical thickness measurement.
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